W Polsce na 1 mln mieszkańców przypada około 60 patentów rocznie. Dla porównania w Japonii jest to 3 tysiące patentów. „Jeżeli nawet przyjmiemy, że połowa tych japońskich to są gadżety i zabawki, które zresztą czasem przynoszą ogromne zyski to i tak jest 25 razy więcej wynalazków niż w Polsce” – informuje Adam Rylski, prezes Stowarzyszenia Polskich Wynalazców i Racjonalizatorów. Jedną z barier stanowią wysokie koszty procedur ochrony międzynarodowej.
Tymczasem z roku na rok w Polsce pojawia się więcej wartościowych rozwiązań o znaczeniu międzynarodowym. Tegoroczna Warszawska wystawa IWIS w hotelu Gromada odbyła się pod Honorowym Patronatem Prezydenta Rzeczypospolitej Polskiej Bronisława Komorowskiego i była największą z organizowanych do tej pory. W Wystawie uczestniczyli wystawcy z 18 krajów z Europy, Azji i Bliskiego Wschodu, którzy przedstawili ponad 280 rozwiązań innowacyjnych. Polskie instytucje sfery nauki, przedsiębiorstwa i indywidualni wynalazcy zaprezentowali około 200 innowacyjnych rozwiązań.
Unikatowe rozwiązania inżynierów z Centrum Badań Kosmicznych PAN docenili zarówno zagraniczni wystawcy jak i członkowie Międzynarodowej Organizacji Własności Intelektualnej oraz Międzynarodowej Federacji Stowarzyszeń Wynalazców. Centrum otrzymało aż 5 medali, w tym jeden złoty z wyróżnieniem za Samo wbijające się wielofunkcyjne urządzenie do głębokich badań podpowierzchniowych KRET (doc. dr hab. Marek Banaszkiewicz, dr inż. Jerzy Grygorczuk, dr inż. Karol Seweryn i dr inż. Roman Wawrzaszek).
Pozostali nagrodzeni, złoty medal:
- Dipolowa antena do pomiaru trzech składowych pola elektromagnetycznego (mgr Marek Morawski wraz z zespołem),
- Wielofunkcyjne urządzenie do płytkich badań podpowierzchniowych MUPUS (doc. dr hab. Marek Banaszkiewicz, dr M. Hłond, mgr inż. S. Gadomski, dr inż. Jerzy Grygorczuk, inż. J. Krasowski, dr W. Marczewski, prof. T. Spohn),
- Zespół cyfrowy sterowania zasilacza lokalnego oscylatora heterodynowego instrumentu HIFI (dr inż. Piotr Orleański wraz z zespołem).
Srebrny medal:
- System wyznaczania kierunku pomiaru spektrometru obrazującego (dr inż. Mirosław Rataj wraz z zespołem).
